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                  首頁>產品中心>>冷熱沖擊試驗箱>TS三箱冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱,冷熱沖擊試驗機,溫度沖擊槽

                  三箱冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱,冷熱沖擊試驗機,溫度沖擊槽

                  三箱冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱,冷熱沖擊試驗機,溫度沖擊槽
                  三箱冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱,冷熱沖擊試驗機,溫度沖擊槽
                  冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱,冷熱沖擊試驗機,溫度沖擊試驗槽
                  冷熱沖擊機也叫冷熱沖擊試驗箱,用來測試材料結構或復合材料,在瞬間下經極高溫及極低溫的連續
                  環境下所能忍受的程度, 藉以在Z短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害.適用的
                  對象包括金屬, 塑料, 橡膠, 電子....等材料,可作為其產品改進的依據或參考。

                  廠商性質:生產廠家

                  產品型號:TS

                  更新日期:2017-02-17

                  訪問數量:1780

                  聯系方式

                  0512-50360258

                  產品介紹

                  TS系列三箱冷熱沖擊試驗箱/溫度沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱

                  *設備特點
                  規格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;
                  設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;
                  高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性;
                  工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,使用壽命長;
                  高密度聚氨酯發泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui??;
                  表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命;
                  高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性;
                  多種可選功能(測試孔、記錄儀、測試電纜等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
                  大面積電熱防霜觀察窗、內藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
                  環保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環境保護要求;

                  *可根據用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能

                  *溫度控制
                  可實現溫度定值控制和程序控制;
                  全程數據記錄儀(可選功能)可以實現試驗過程的全程記錄和追溯;
                  每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設置短路保護,確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性;
                  USB接口、以太網通訊功能,使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
                  采用流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動調節壓縮機制冷功率,較傳統的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
                  制冷及電控關鍵配件均采用產品,使設備的整體質量得到了提升和保證;

                  *設備滿足以下標準
                  GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
                  GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
                  GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
                  GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則
                  GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環境試驗方法 第3部分:高溫試驗
                  GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環境試驗方法 第4部分:低溫試驗
                  GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗
                  GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
                   

                  型 號
                   
                  TSL-80-A
                  TSU-80-W
                  TSS-80-W
                  TSL-150-A
                  TSU-150-W
                  TSS-150-W
                  TSL-225-W
                  TSU-225-W
                  TSS-225-W
                  TSL-408-W
                  TSU-408-W
                  TSS-408-W
                  標稱內容積(升)80150200300
                  試驗方式氣動風門切換2溫室或3溫室方式
                  性能高溫室預熱溫度范圍+60~+200℃
                  升溫速率※1+60→+200℃≤20分鐘
                  低溫室預冷溫度范圍-78-0℃
                  降溫速率※1+20→-75℃≤80分鐘
                  試驗室溫度偏差±2℃
                  溫度范圍TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;
                  TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;
                  TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃
                  溫度恢復時間※25分鐘以內
                  試樣擱架承載能力30kg
                  試樣重量7.5kg7.5kg10kg10kg
                  內部尺寸(mm)W500600750850
                  H400500500600
                  D400500600800
                  外形尺寸(mm)※4W1460156017101880
                  H1840194019402040
                  D1500160017001900
                  ※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉時的性能。
                  ※2恢復條件:室溫為+25℃和循環水溫為+25℃,試樣是塑料封裝集成電路。(均布)

                   

                   

                  型 號

                   

                  TSL-80-A

                  TSU-80-W

                  TSS-80-W

                  TSL-150-A

                  TSU-150-W

                  TSS-150-W

                  TSL-225-W

                  TSU-225-W

                  TSS-225-W

                  TSL-408-W

                  TSU-408-W

                  TSS-408-W

                  標稱內容積(升)

                  80

                  150

                  200

                  300

                  試驗方式

                  氣動風門切換2溫室或3溫室方式

                  性能

                  高溫室

                  預熱溫度范圍

                  +60~+200℃

                  升溫速率※1

                  +60→+200℃≤20分鐘

                  低溫室

                  預冷溫度范圍

                  -78-0℃

                  降溫速率※1

                  +20→-75℃≤80分鐘

                  試驗室

                  溫度偏差

                  ±2℃

                  溫度范圍

                  TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;

                  TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;

                  TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃

                  溫度恢復時間※2

                  5分鐘以內

                  試樣擱架承載能力

                  30kg

                  試樣重量

                  7.5kg

                  7.5kg

                  10kg

                  10kg

                  內部尺寸(mm)

                  W

                  500

                  600

                  750

                  850

                  H

                  400

                  500

                  500

                  600

                  D

                  400

                  500

                  600

                  800

                  外形尺寸(mm)※4

                  W

                  1460

                  1560

                  1710

                  1880

                  H

                  1840

                  1940

                  1940

                  2040

                  D

                  1500

                  1600

                  1700

                  1900

                  ※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉時的性能。

                  ※2恢復條件:室溫為+25℃和循環水溫為+25℃,試樣是塑料封裝集成電路。(均布)

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